尽管本标准中描述的几种起痕与蚀损试验方法在文献中可能经常被称为“老化试验”，但指出它们 在一定意义上不是加速老化试验很重要。因为这些试验既不能模拟确切的降低实际使用寿命的条件， 也不能通过短时间的加速给出一个寿命的等伉试验…而所使用的持续的、循环的或组合的应力，是要试 图努力发现可能危及绝缘子运行性能的潜在薄弱点。
这些相关的试验（9. 3. 3,附录A,附录B）*被描为筛选试验，可以用来剔除不适用的材料或者 设计。
聚合物绝缘子的老化过程一般不会同时造成容易测量的引起老化的逐渐变化的特征。绝缘子从 “性能良好”到“使用寿命结束”的玺化，经常是迅速而没有事先预兆的，并有可能被类似前面提及的盐雾 试验中所得到蚀损深度，或强紫外线所造成的表面开裂观察到。这种变化的时间和速度依赖于很多参 数，包括绝缘了的材料、设计以及绝缘于的运行环境。因此，对于用这样的老化试验预测绝缘于的真实 寿命，仅当得到在相同或相似的环境下相同或相似的绝缘子的关于损伤或降解的数据冇效时，才是有订 能的。
因此,这些试验的应用是为了给出设计和材料的特性与比较苛刻而拒严酷的环境中呈现的应 力之间关系的-般信息。
重要的是，要注意到通过标准的“试验结束”时的破坏水平在大部分运行环境下是不能接受的。例 如，在相关试验（9. 3.-3,附录A,附录B）中"［到3 mm的蚀损深度在试验中是可以接受的，但绝缘子 运行中这不能被接受.，在绝缘*的设计寿命中也不希望发生。
进一步的信息，见C1GRE技术手册142册：“聚合物绝缘子的i'|然和人工老化以及污秽试验” （）7,1999。
